6.2.2.2 如图 7b)所示,采用两个激励线圈、一个检测线圈,或一个激励线圈、两个检测线圈,这种结构探头用于降低由支撑板和其他导体产生的干扰信号。 6.2.2.3 绝对检测线圈和差动检测线圈——绝对检测线圈主要用于大范围渐变缺陷的检测,差动检测线圈对管道长度方向上的突变性缺陷具有最大响应信号。 6.2.2 .4多点式检测线圈。如图 7c)所示多点式检测线圈用于检测管子周向壁厚的偏差。多点式线圈相对于管子既可以径向放置,也可以轴向放置。用多点式检测线圈时,应采用有相应通道数的检测仪器。注:箭头表示从激励线圈到检测线圈电磁场能量流的方向。图7 远场涡流检测探头结构示意图 6.3 远场涡流检测对比试样 6.3. 1对比试样原则上应满足 3.2 的规定,如果达不到规定要求,则对比试样管应选取与被测管的公称直径相同,壁厚和材料特性、规格相近的铁磁性管。 6.3 .2对比试样管人工缺陷的深度标示为缺陷最深点的深度,并用管道公称壁厚的百分比表示。缺陷深度的尺寸精度在±2%以内,其他方向上的尺寸精度在±0.25mm 以内。 6.3.3 远场涡流对比试样管的人工缺陷尺寸。 6.3.3. 1圆底孔——用直径 10mm的球形钻头,加工深度 50%(图 8缺陷 A)。 6.3.3. 2通孔——通孔的直径为壁厚的 1.25 倍(图 8缺陷 B)。 6.3.3 .3周向窄凹槽——槽深为 20%壁厚(图 8缺陷 C),槽宽为 3mm ; 6.3.3 .4周向宽凹槽——槽深为 20%壁厚(图8缺陷 D),槽宽大于或等于 2倍管公称直径。 6.3.3 .5单边缺陷:Ⅰ型对比试样管的单边缺陷——深度 60%,轴向长度为 15mm 的周向单边缺陷[图 8a)缺陷 E],其周向幅度为 180 °~270 °。Ⅱ型对比试样管的单边缺陷——深度 50%,轴向长度大于或等于 2倍管外径的铣槽[图 8b)缺陷 E]。
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