第四讲新企标与相关标准区别秋

?2001年东北大面积污闪后，中国电科院开始进行饱和等值盐密及其耐受电压方面的研究工作?2006年，中国电科院加入IEC TC36 WG11工作组，力求反应中国的意见并跟踪IEC 60815的最新进展?2006年底，在国网公司生产部的领导下，以中国电科院为主完成QGDW152污区划分新企标的制定?2007年1月，国网公司生产部开始新企标的宣贯工作Р第四讲新企标与相关标准区别秋РРIEC60815-主要目的Р识别影响因素?了解和识别影响绝缘子污秽性能的系统、应用、设备和现场的参数?选择设计方法А 了解和选择适当的方法以设计和选取绝缘子的基于可得到的数据、时间和资源的解决办法?确定SPS?表征一现场污秽的类型并确定该现场的污秽度(SPS)；?确定USCD?从SPS确定参考的统一爬电比距（USCD）?校正?考虑该“候选”绝缘子的特性（尤其是绝缘子外形）将其“参考的”USCD对该现场、应用和系统类型进行校正?评价?确定这些可能的解决办法的相对的优点和缺点；评定“混合的”解决办法或减污的措施的必要性和优点；?验证；?如有要求，确定验证所选取绝缘子的性能的适当的试验方法和参数Р第四讲新企标与相关标准区别秋РРIEC60815的主要变化Р鼓励使用现场污秽度测量，最好至少测一年，以便对现场分级以代替先前的定性评定?承认在绝缘子上的“固体”污秽具有两个部分，一个是可溶的部分，用ESDD来量化，另一个是不溶部分，用NSDD来量化?承认在某些情况下应测量污层电导率来确定现场污秽度?使用自然和人工污秽试验结果以帮助确定尺寸Р第四讲新企标与相关标准区别秋РРIEC60815的主要变化Р承认爬电距离不总是唯一的决定参数；?承认其他几何参数的影响并承认按绝缘子的尺寸和类型参数而变化的重要性；?承认污秽类型参数变化的重要性：?采用校正因数以考虑上述污秽类型和绝缘子参数的影响。Р第四讲新企标与相关标准区别秋