,中国地质学会拟于 2003 年 5 月在北京召开全国地球化学分析学术报告会和 X 射线光谱分析研讨会。Р 会议将重点邀请国内外知名专家和学者,对分析科学及相关领域的研究进展进行评述,报告最新研究成果。同时亦Р热忱欢迎广大分析工作者和专家投稿、参会并交流经验。对有价值的论文,将由《岩矿测试》杂志择优发表。Р 全国地球化学分析学术报告会主要内容包括: (1) 各种分析测试技术的进展与评述; (2) 地质样品中的主、次、痕量元Р素分析方法研究; (3) 同位素地球化学研究; (4) 有机与形态地球化学分析; (5) 环境地球化学分析; (6) 大陆科学钻探与现Р场分析技术; (7) 信息与计算机技术。Р X 射线光谱分析研讨会主要内容包括: (1) X 射线探测技术的最新发展、原理与应用; (2) 偏振 X 射线荧光分析技术;Р(3) 常规能量色散 XRF 技术的现状、应用与局限; (4) 小型与原位 X 射线荧光分析仪研制进展; (5) 微束 X 射线荧光分析技Р术; (6) 基体校正与化学计量学研究现状; (7) 样品制备技术; (8) XRF 应用:文物考古、生物医学、环境等。会议由中国地Р质学会岩矿测试专业委员会和国家地质实验测试中心承办。对做主题发言的国内外知名专家的报告题目与安排将在以Р下网站发布:Р Web :http ∥www. ccsd. org. cn division fluid ; 联系人:罗立强, 吴晓军, 甘露Р 传真:010 - 68352872 ; 电话:010 - 68995793。地址:北京百万庄大街 26 号国家地质实验测试中心 100037Р 中国地质学会Р 2002 年 12 月 12 日Р © 1995-2005 Tsinghua Tongfang Optical Disc Co., Ltd. All rights reserved.
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