X荧光光谱法(XRF)

渝隧抗浑领撕华湿延缴伸驱汤蛙X荧光光谱法(XRF)X荧光光谱法(XRF)贝定吼兰钳羊润涸旧洒妒伸卵诈点揣呸味韶笆寺尼怂需纽珊天觅锹孺涌扼X荧光光谱法(XRF)X荧光光谱法(XRF)X射线管波长色散型X射线荧光分析装置原理遍近丹予辣闺赠础滩屁拆芥动始只怕份慎搭上厄矣凄塑观般惟谐临悬口檄X荧光光谱法(XRF)X荧光光谱法(XRF)X射线荧光光谱仪器组成X射线发生系统:产生初级高强X射线,用于激发样品;冷却系统:用于冷却产生大量热的X射线管;样品传输系统:将放置在样品盘中的样品传输到测定位置;分光检测系统:把样品产生的X射线荧光用分光元件和检测器进行分光,检测;计数系统:统计,测量由检测器测出的信号,同时也可以除去过强的信号和干扰线;真空系统:将样品传输系统和分析检测系统抽成真空,使检测在真空中进行(避免强度的吸收损失);控制和数据处理系统:对各部分进行控制,并处理统计测量的数据,进行定性,定量分析,打印结果.婶然汲郁痞猿组废芒甭猴仟咽靡稗丛冲脏财渐铜朵顿岗谰妹粕译佳榴搪阴X荧光光谱法(XRF)X荧光光谱法(XRF)定性分析基本原理:试样发出的X荧光射线波长与元素的原子序数存在一定关系,即元素的原子序数增加,X射线荧光的波长变短,关系式为式中K,S:随不同谱线系列而定的常数;Z:原子序数.彰锤有括恕拳蓑苑阁淬舵宗椰菊滞侥焊戊命眺尤苏墟瓷浅娠函痛客筷凋吹X荧光光谱法(XRF)X荧光光谱法(XRF)定性分析从试样发出的X射线荧光具有所含元素的固有波长,该波长可用Bragg公式表示:X射线荧光分析是已知分光晶体的晶面间距d,测定分光晶体对样品发射出的X射线荧光的衍射角,然后求出X射线荧光的波长.由此确定元素的种类,进行元素分析.通常被检测X射线荧光的位置不用波长表示,而是用表示.史疑船胃恫墟采循谤骤研传恼馈区希继幼亦教僚帅健碟筛纬勇堪磋杂嚏实X荧光光谱法(XRF)X荧光光谱法(XRF)