补充 1:利用 X射线衍射法研究二元相图补充 2:点阵对称性变化与衍射线条的对应关系第8章点阵常数的精确测定?点阵常数晶体物质的重要参量,它随物质的化学成分和外界条件而发生变化; ?许多材料研究和实际应用问题,都与点阵常数的变化密切相关;如晶体物质的键合能、密度、热膨胀、固态相变等; ?上述过程中,点阵常数的变化一般很小(约为 10 -4?)数量级。必须对点阵常数进行精确测定主要内容?点阵常数精确测定的原理?德拜—谢乐法的系统误差?衍射仪的主要误差?外推法消除系统误差?最小二乘法 8.1 点阵常数精确测定的原理测定点阵常数的依据衍射线的位置即2?角以衍射花样指数化为基础通过布拉格方程和晶面间距公式计算点阵常数以立方晶系为例,点阵常数的计算公式为: 影响点阵常数的因素: 1)入射 X射线的波长; 2)晶面指数( HKL ); 3) sin ?. 波长可精确到 5×10 -6? ( HKL )为整数,无误差; sin ?为主要原因.
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