用劈尖可以测量微小角度θ, 微小厚度及入射光的波长; (2) 空气劈尖在尖端出现暗纹; (3) 同一级干涉条纹, 对应相同的介质膜厚度; (4) 干涉条纹的移动: 相邻条纹间的距离: ????nn l2 sin 2 ??明条纹暗条纹条件:2 2 ???? ne????????2 )12( ??k kn l2 sin ??? P.5 /54 第15章波动光学应用 1 测量薄膜的厚度 L d l Nn d2 ??薄膜厚度: ? n l nl eL d2?????? nl Ld2 ??l LN?条纹数测量原理在半导体元件生产中, 测定硅片表面二氧化硅镀膜厚度的方法: 将薄膜的一部分磨成劈形膜, 通过观察垂直入射光在劈形膜上产生的干涉条纹, 计算镀膜厚度. P.6 /54 第15章波动光学 keΔ2 Δ??说明:?k反映偏离直线条纹的程度. 应用 2 检查光学器件表面 e?e ??ke??2 2??)Δ(2 )Δ(2kkee????测量原理 P.7 /54 第15章波动光学若因缺陷使某处条纹移动了一个条纹间距, 即?k =1, 则 k-1 k k+ 1表面凸起? ke 1?kek-1 k k+ 1表面凹陷 2 ???e ke???2 ? P.8 /54 第15章波动光学 P.9 /54 第15章波动光学例 15-4. 有一玻璃劈尖, 放在空气中, 劈尖夹角?=8 ?10 -5 rad. 波长?=589nm 的单色光垂直入射时, 测得干涉条纹的宽度为 l =2.4mm, 求玻璃的折射率.解: nl2 ???l n??2 ? 53 .1 10 4.2 10 82 10 89 .5 35 7?????????? 2. 牛顿环空气牛顿环的特点: 干涉条纹是以平凸透镜与平面玻璃板的接触点为圆心, 明暗相间的圆环, 中心为暗点; 条纹间距不等, 且内疏外密.
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