史上最全的电子产品寿命评估公式

N试验时间T(h)加速系数221000200.22MTBF(小时)MTBF(年)90%置信度1912962.60218.3795%置信度1470326.05167.85失效率t为失效率推算时间,与MTBF单位相同234566.29587.75399.153610.513311.84245.32236.68087.99369.274910.5322失效数R系数90%R系数95%02.30262.9958MTBF计算(95%置信度)MTBF=(N*T*Af)/RMTBF(h)=1470326.05小时167.85年推算年份失效率失效率105.78%t为失效率推算时间,与MTBF单位相同失效数R系数90%R系数95%02.30262.9958年平均失效率0.46%0.60%Af=([RHt/RHu]p)×e(Ea/K)×(1/Tu-1/Tt)MTBF=(N*T*Af)/R失效率RHt——试验湿度*注:R为泊松分布期望值;N为试验样品数;T为试验时间,单位为小时;Af为试验加速系数RHu——使用湿度Tu——使用温度(K)期望值R(泊松分布)Tt——试验温度(K)失效数01234p——指数,典型的数值为2.66;2~3置信度95%2.99584.74396.29587.75399.1536Ea——活化能,对电子设备Ea=0.67eV;0.67置信度90%2.30263.88985.32236.68087.9936K——Boltzman波尔兹曼常数=8.617×10-5eV/k;试验样品数N试验时间T(h)加速系数失效数R系数90%R系数95%加速系数Af计算221000200.2202.30262.9958试验湿度使用湿度加速因子t为失效率推算时间,与MTBF单位相同567810.513311.842413.148114.43469.274910.532211.770912.9947