特光强调制懈菔萁纤光学头的方向发展。Р华中理工大学博士学位论文.怪备飨蛞煨院痛殴庑в怼薄啊.露瘸》植嫉哪D饧扑恪啊薄等人则报道了利用—方程计算磁光记录中磁畴形成的动垂直磁各向异性。—磁性膜的单轴垂直各向异性的起源归因于:配对理论、单入的探讨。例如,记录畴的微观结构;磁畴壁在照射微区升温和降温过程中的运动;记录膜中温度的横向和纵向分布;温度的梯度分布对磁光记录畴形成的影响:多层膜磁光记录膜的一个重要性质是具有垂直磁各向异性,记录畴的磁化方向垂直于膜面。垂直磁各向异性的起源一直是磁光存储理论研究的热点。它与材料的组成成份、制备方法、制备条件、膜层结构等有关。目前研究方法主要包括:用数值计算方法对磁光记录的微观过程进行模拟计算;用偏光显微镜、磁力显微镜、洛仑兹显微镜等各种高分辩率的显微镜直接观察磁光记录畴的微观结构。值计算方法进行模拟计算。甁.运用拉普拉斯和傅里叶积分方法计态过程。他们发现,记录光束的半径对记录过程有很大的影响。仍擞酶窳趾扑懔说ゲ隳ず土す饧锹继跫碌奈露确植肌甅.在求解热传导方程中,采用了一些合理的近似处理,给出了多层膜的温度分布的解析解,虽然误差较大。但作为定性分析比较方便。对磁光记录过程中温度分布进行模拟计算的求解方法虽然各不相同,但出发点都是热传导方程。所不同的是:针对不同的记录介质和记录条件,提出了不同的边界条件。柱状记录磁畴的磁化方向垂直于介质表面。其正反两个不同的方向被用来表征二对于垂直磁各向异性的起源,部分学者认为,磁光介质的结构各向异性造成了其中交换耦合作用的影响等。激光束经过聚焦后在膜面上形成的光点尺寸很小,磁光记录过程中光照微区的温度分布很难进行直接测试,因此,一般都是根据一定的记录介质和记录条件,采用数算了—记录层中的温度分布,并与实验结果进行了比较,两者符合得较好。等先后计算了静态和动态记录过程中,多层膜介质中的温度分布。进制中的“焙汀”。,
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