研究[期刊论文]-电子测量与仪器学报 2010(01)Р8.KHONG B;LEGROS M;TOUNSI P Characterization and modeling of ageing failures on power MOSFET devices 2007Р9.ALWAN M;BEYDOUN B;KETATA K Bias temperature instability from gate charge characteristics investigation in N-Рchannel power MOSFET 2007(6-7)Р10.吴祎;王友仁;陈妤基于BPNN的电力电子电路参数性故障诊断方法[期刊论文]-电子测量与仪器学报 2012(05)Р11.杨媛媛;王友仁;崔江基于HS-PF的电力电子电路故障预测方法[期刊论文]-电子测量与仪器学报 2011(05)Р12.何英;周东华;俞容一种基于性能退化数据的电子设备缓变故障预报方法[期刊论文]-仪器仪表学报 2008(07)Р13.郭阳明;姜红梅;翟正军基于灰色理论的自适应多参数预测模型[期刊论文]-航空学报 2009(05)Р14.姜媛媛;王友仁;崔江基于LS-SVM的电力电子电路故障预测方法[期刊论文]-电机与控制学报 2011(08)Р15.王少军;刘琦;彭喜元移动通信话务量多步预测的LS-SVM方法研究[期刊论文]-仪器仪表学报 2011(06)Р Р引证文献(1条)Р1.周楚.张琼英.高宇.瞿少成一种通用高精度DSP控制的Buck变换器设计[期刊论文]-电子测量技术 2014(4)Р Р Р引用本文格式:吴祎.王友仁.姜媛媛.林华.Wu Yi.Wang Youren.Jiang Yuanyuan.Lin Hua 基于特征参数退化的DC/DC变换器故障预测Р[期刊论文]-仪器仪表学报 2013(6)