30 m 2 ( 300 ft 2 ), A 部分膜厚的测量程序还要应用在 B 部分和 C 部分上。 B 部分以及 C 部分的测量膜厚都必须超过规定的最小膜厚 64 μm (2.5 mils )。要监控此结构上全部 30 m 2 ( 300 ft 2 )面积的膜厚,至少要取得 45 个单独读数, 从中计算出 15个测量位置的测量膜厚值。每 10 m 2 ( 100 ft 2)面积上的膜厚通过其上 5 个测量位置的测量值取得。附录 2 – 举例使用薄片调整 2 型膜厚仪附录 2 不是本标准的强制部分。这里的举例描述了一种调整方法,用来提高 2 型(电子型)膜厚仪在冲砂清理或其他的粗糙表面测量的有效性。举例中一直使用喷砂清理,但是这些方法对于其他类型的表面处理也是可行的。在一个比较不均匀的表面,例如部分生锈的手工工具清理的表面,可能需要更多的读数以达到统计有效性的满意水平。由于不同厂家的膜厚仪操作方式不同,对某种膜厚仪的调整要按照厂家的指导进行。 2 型膜厚仪要针对基材的表面粗糙度进行调整是为了能够直接读取膜厚。可以利用冲砂后涂装前的部分基材表面调整膜厚仪。另外,一块和主结构同时喷砂清理,并且具有主结构表面粗糙度代表性的未涂装的测试试板也可以用来调整膜厚仪,前提是此试板材料的磁性和几何性质与被测结构相似。如果没有可以用来调整膜厚仪的表面,那么可以按照如下描述,在光滑表面调整时使用一个修正值。依所使用膜厚仪的性能和特点而定,可以使用三种调整技术。请注意,由于粗糙表面造成的统计变化,使用这三种方法取得的单个读数可能不完全相同。前两个例子描述了在一个或多个薄片上的调整和验证。当使用薄片时,由此产生的膜厚仪测量值的精确度较低并必须重新计算。例如,一个正确校准的膜厚仪的精确度可能是± 2% 。薄片厚度的精确度可能在± 3% 之间。膜厚仪和薄片的综合公差按照平方和公式将是± 4% :
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