到试品的电容量。如果多个电容屏中的一个或几个发生短路、断路,电容量就有明显的变化,因此电容量也是一个重要参数。 2.1.2介质的两种模型及与频率的关系所有有损的电容器,都可以用RC并联和串联两种理想模型进行分析【l 华北电力大学硕士学位论文(1)并联模型: 认为损耗是与电容并连的电阻产生的。这种情况RC两端电压相等:有功功率p=-己产傻,无功功率妒u2coc,因此 R tg沿P7妒、缅RC 其中∞=2nf,f为电源频率。可见,如果用真正用一个纯电容和一个纯电阻模拟介损的话,t96与频率成反比。当R=oo时,没有有功 C 功率,介损为0。图2-2RC串联模型这种方法常用于试验室模拟10%以上的大介损,或用于制做标准介损器。(2)串联模型: 认为损耗是与电容串连的电阻产生的。这种情况电路的电流相等: 有功功率p=12R,无功功率Q=12koC,因此。宁 tgf=P/Q=coRC .r] 可见,如果用真正用一个纯电阻和一个纯电容模拟介损的话,它与 LTJ 频率成正比。当R=0时,没有有功功率,介损为0。 6 这种方法常用于试验室模拟10%以下的介损,或用于制做标准图2-3 RC并联模型介损器。(3)实际试品: a、固定频率下测量在一个固定频率下实际试品,可以用两种模型表示。例如50Hz下,下面两个电路对外呈现的特性完全一样,如下图2.4所示: 10000pF 100kQ 1113-2kQ tg6=31.4%Z=100—3183 kQ 图2-4两种模型50Hz下呈现的特性不同的电桥测量这两个试品,其介损都是31.4%,但西林电桥(2801或QSl)测量的电容量是10000pF,电流比较仪电桥(如QS30)测量的电容量是9101.7pF。这是因为2801电桥认为试品损耗是串连模型,QS30认为试品是并联模型。通常认为并联模型更接近实际情况,这是因为有功电流穿过电极之间的绝缘层,更 R
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