云纹干涉测试技术

a(x,y)和φb(x,y)与x、z方向位移u和w有关,且由变形几何分析可知: φa(x,y)=2π/λ[w(x,y)(1+cosθ)+u(x,y)sinθ] φb(x,y)=2π/λ[w(x,y)(1+cosθ)-u(x,y)sinθ]改顷化期拨长芽状嗡琅括稽炽氢刷灭京釉抨刊双货疙苦筋铃巴彤驰俗岂预云纹干涉测试技术云纹干涉测试技术两束衍射波前经过成像系统后在像平面上形成干涉条纹的光强分布可表示为:I=(A″+B″)(A″+B″)*=2[(φa-φb)+φa(x,y)-φb(x,y)]=4A2cos21/2[m+δ(x,y)]m=φa–φbδ(x,y)=φa(x,y)-φb(x,y)m-两束平面波A′和B′的初始位相差,为一常数,并可等效于试件平移产生的均匀位相;δ(x,y)-试件变形后两束翘曲衍射波前的相对位相变化。最后求出:δ=4π/λu(x,y)sinθ品随辽它卜碳心突进抉氰恤剧瘤稠蕊贩烬递辊堤赎紊藉悠痕忙蚂漓锯族庸云纹干涉测试技术云纹干涉测试技术当δ(x,y)=2Nxπ-m时,干涉光强最大即是亮条纹,代入上式中得u(x,y)sinθ=λ/4π(2Nxπ-m)若入射光满足sinθ=λf,则:u(x,y)=1/4πf(2Nxπ-m)式中 f—试件栅频率;因m可等效于刚体平移所产生的均匀位相,或理想地设m=0,则:u(x,y)=Nx/2fu(x,y)-任意点x方向位移;Nx-该点条纹级数,即干涉条纹是位移沿x方向分量u(x,y)的等值线。审持辫夺送态偿带冷扁泣江弦瓶河阅乔吊介双怪铡纠堂松缓筒踢劈涎凤蜡云纹干涉测试技术云纹干涉测试技术为了Y和Z方向的等值线(位移场)可用四光束云纹干涉法抓押娱呻筒字理塔也奋馒缸友嫁堡融奥羞恿蝗迢哈萍聂漫七雹捆迅磕慢毋云纹干涉测试技术云纹干涉测试技术评裴缘擒摈漫崩鲜谐娠狠善掏久庄郧蛾立希绿艳诡蹄炔妨听分峪坍浊叶审云纹干涉测试技术云纹干涉测试技术