测力Р用量仪测力仪的球工作面与外径千分尺工作面相接触后,进行校准。Р6.4 刻线宽度及宽度差Р用读数显微镜或工具显微镜校准。微分筒和固定套管的刻线应至少任意各抽查3条进行测量。Р6.5 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离Р用0.4的塞尺至于固定套管刻线面上用比较法校准,微分筒锥面的端面棱边上边缘硬不高塞尺表面。测量应在微分筒任意一周内不少于3个位置,也可用读数显微镜或工具显微镜校准。Р6.6 微分筒锥面的端面与固定套管上毫米刻线的相对位置Р首先将外径千分尺测量下限调整正确,然后使微分筒锥面的端面与固定套管任意毫米刻线的右边缘相切,此时读取微分筒的零刻度线与固定套管纵刻度线的偏移量即为离、压线数值Р6.7 工作面的表面粗糙度Р用表面粗糙度比较样块校准。Р6.8工作面的平面度Р用2级平面平晶以技术光波干涉法校准。使用中核修理后的外径千分尺也可以用1级刀口尺以光隙法校准。工作面直径为6.5mm的,距离边缘0.2mm范围内不计;工作面直径为8mm的距边缘0.5mm范围内不计。Р6.9两工作面的平行度Р测量上限至100mm的千分尺两工作面的平行度用平行平晶校准,也可用两块校准,量块精度不低于5等量块。Р6.10外径千分尺的示值误差Р外径千分尺示值误差校准用5等量块或相应等级的专用量块校准,受检点应均匀分布于测量范围的5点上,也可根据对测量不确定度的要求,在适当的环境条件下,采用不同等级的量块进行校准。Р其分布点为:L=A+BР式中: A –测量下限mm;Р B –测微头示值误差的被测点尺寸mm。Р示值误差的校准应在外径千分尺尺身处于水平位置状态下进行。Р6.11校对用的量杆Р校对用的量杆的尺寸及变动量在光学计或测长机上采用相应等级的量块以比较法进行校准。Р校准结果表达Р经校准的外径千分尺发给校准证书。Р复核时间间隔Р可根据被校外径千分尺的使用情况,复核时间间隔由用户自行决定。
全文预览
