二次离子质谱、电子探针、原子探针(与场离子显徽镜联用)、激光探针等。? 在这些成分分析方法中有一些已经有很长的历史,并且已经成为普及的常规的分析手段。如质谱已是鉴定未知有机化合物的基本手段之一,其重要贡献是能够提供该化合物的分子量和元素组成的信息;色谱中特别是裂解气相色谱(PGC)能较好显示高分子类材料的组成特征,它和质谱、红外光谱、薄层色谱、凝胶色谱等的联用,大大地扩展了其使用范围。红外光谱在高分子材料的表征上有着特殊重要地位。红外光谱测试不仅方法简单,而且也由于积累了大量的已知化合物的红外谱图及各种基团的特征频率等数据资料而使测试结果的解析更为方便。核磁共振谱虽然经常是作为红外光谱的补充,但其对聚合物的构型及构象的分析,对于立构异构体的鉴定,对于共聚物的组成定性、定量及序列结构测定有着独特的长处,许多信息是其他方法难以提供的。Р引言Р材料表征与检测技术Р材料的结构测定技术及方法Р在材料的结构测定中,X射线衍射分析仍是最主要的方法。这一技术包括德拜粉末照相相分析,高温、常温、低温衍射仪,背反射和透射劳厄照相,测定单晶结构的四圆衍射仪,织构的极图测定等。但X射线不能在电磁场作用下会聚,所以要分析尺寸在微米量级的单晶晶体材料需要更强的X射线源,才能采集到可供分析的X射线衍射强度。? 由于电子与物质的相互作用比X射线强四个数量级,而且电子束又可以会聚得很小,所以电子衍射特别适用于测定微细晶体或材料的亚徽米尺度结构。电子衍射分析多在透射电子显微镜上进行,与X射线衍射分析相比,选区电子衍射可实现晶体样品的形貌特征和微区晶体结构相对应,并且能进行样品内组成相的位向关系及晶体缺陷的分析。而以能量为l0-l000 eV的电子束照射样品表面的低能电子衍射,能给出样品表面1~5个原子层的结构信息,成为分析晶体表面结构的重要方法,已应用于表面吸附、腐蚀、催化、外延生长、表面处理等表面工程领域。
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