可靠性: 一般元器件的可靠性通常用失效率表示。由于元器件都工作在偶然失效期,其失效率为常数。失效率λ(t)与可靠度 R(t) 之间的关系为上式说明了正常工作概率(可靠度)在时间上是按指数衰减的。当产品的工作时间等于产品平均正常工作时间(平均寿命)时,产品的可靠度约为 0. 37 。因此,要获得较高的可靠度,产品的工作时间应远小于产品的平均寿命, 也就是工作时间越短其可靠性越高。电子元器件失效率数据,可以通过对它的可靠性试验求得: λ=失效数/运用总数×运用时间元器件失效率参数λ由生产厂家提供,应按照电子产品的可靠性要求和成本控制要求等选择使用。 tetR ???)(下表为元器件实际失效率下表为元器件实际失效率半导体器件1.7× 10-9 二极管(用于整流) 1.5× 10-8 金属化纸质电容电容器 8.0× 10- 11 二极管(用于逻辑) 2.7× 10-8 可变电阻器 8.3× 10-8 单结晶体管 2.1× 10-9 可变碳膜电阻器 1.6× 10-8 功率晶体管 4× 10-9 固定电阻器 4.1× 10-8 双极晶体管 1.4× 10-9 固定碳膜电阻器电阻器 4.1× 10-9 开关晶体管失效率( 1/h ) 元器件失效率( 1/h ) 元器件?(3)使用条件对可靠性的影响: 使用条件包括工作环境条件和负荷条件两方面。工作条件不同元器件的失效率变化很大,有时可相差几百倍,一般地说, 所处的环境条件越恶劣,其失效率越大。 2.可靠性度量指标: 整机的可靠性与它所使用的元器件的可靠性、元器件的数量、电路设计的质量、产品的结构类型等有关。对于不同的产品,可用无故障率、可靠度、失效率等度量指标来表示其可靠性。★无故障率: 是指在实际使用条件下和所要求的时间内,系统参数处于给定的偏差范围内的概率。计算时常用它的相对量---失效率。预期寿命(平均无故障时间) =1/ 失效率
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