子系统的可靠性带来极大隐患。因此,近年来国际上投入了大量的人力物力,进行了有关低剂量率辐照损伤增强效应的研究。虽然,目前国外已有很多双极器件在低剂量率下辐照损伤增强的报道【卜���ü�谠诟梅矫娴难芯咳�相对较少,且主要集中在商用器件上。对于国产器件���вΦ谋ǖ涝蚋�伲�绕涫钦攵阅骋惶囟ü�艺的生产线陋阍。而已有的研究发现,���вΦ牟��氲缏返墓ひ蘸徒峁咕�忻芮泄叵怠NA硕怨��器件���вΦ南肿从兴�私猓�疚囊阅骋惶囟üひ丈��墓�鶱�双极晶体管为对象,对其进行了参考文献:摘要关键词�,简称����巧鲜兰途攀�甏�跤蒃��一”等人首次发现的一种新的辐射效应现象。由于这一现象【�縋��.�����������劲鳎甁���【�縇�甐����甆��∞�������������綣】.�������������:�����【�緼.��【�垦羁宋洌�爬冢��如鳎�嘈酒�低晨煽啃约际踹叮�氲继迩楸ǎ������:��【�縒����甁.’�������加.��作者简介:贾颖,女,北京航空航天大学可靠性工程研究所,高级工程师,主要从事元器件可靠性研究和教学。王艳芝。女。北京航空航天大学硕士研究生,主要从事元器件可靠性研究。�中国科学院新疆理化技术研究所乌鲁木齐�����中国科学院研究生院����对国产��ḿň�骞茉诓煌�亮柯氏碌姆�湫в�屯嘶鹛匦越�辛搜芯俊=峁�允荆涸诓煌��量率辐照下,���骞艿奶匦运ソ稻�浅C飨浴2唤鼍�骞艿墓�;�ǖ缌髅飨栽龃螅�绷髟鲆嫜杆傧�降,其集电极电流也随辐照总剂量的增加而逐渐衰减,且低剂量率辐照下损伤更明显。本中对造成各种实验现象的损伤机理进行了分析。��ḿň�骞苄顲:州辐照���嘶�����,��������,����.���琂.�����������.���,����—����甂��.������:���������������:�����,����