1.297 1.32 表 7-3 相位补偿法测量云母薄片样品的折射率差 KV V D)02 .032 .1(??。由( 7-12 ) 式得( 电压实际上是负值, 加上符号得正确结果) ??????29 .055 .4 32 .1??????V V DDs 8 n d s????? 2 ,d 为样品厚度, md?20 ?,A ?6328 ??为光波长。 3410 6.410 20 2 29 .06328 2 ??????????????? d n s5 实验结果与讨论 5.1 用三种方法测定一组 KD*P 晶体的半波电压值和相应的环境温度分别为: AP // 光强极小法, KV V)04 .061 .4(???,C ?23 AP?光强极大法, KV V)04 .067 .4(???,C ?23 调制法, KV V)02 .055 .4(???,C ?22 排除室温变化引起的半波电压漂移(约CV ?/10 ), 可以看出调制法的结果比前面两种方法的结果明显偏小。事实上, 是因为前面两种方法都没有考虑零点修正的问题而导致偏大。 5.2 用调制法和相位补偿法测定云母薄片样品的相位差和折射率差为??29 .0? s ,310 6.4 ????n 测量误差的主要来源为补偿零点的涨落和漂移, 另外还包括直流电源的不稳定、电光晶体半波电压的漂移和光路不准直、样品长短轴未与电光晶体感应轴重合等因素。使用调制法, 每次都做零点校正测量,可以减小零点漂移的影响,多次测量可以减小零点涨落的影响。后四中仪器因素和调节因素带来的影响在通过仔细操作后一般很小。 6 思考题(略) 7 实验体会通过本实验,初步了解和掌握了一种重要的光学测量方法——电光晶体相位补偿法。该方法的重要意义在于可以通过电信号直接控制光信号进行测量, 除了在双折射晶体检定等纯光学元件应用外,还在光学信息处理等方面有重要的实际意义。
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