结垢物质(碳酸钙、硅和硫酸钡等)。④吸附层一般很薄,由于 FT-IR 的分析深度是 100 微米,因此对很薄的吸附层显得办法不多。可以用大量的超纯水对这些吸附物进行抽取,然后降压浓缩后再用 FT-IR 测试。关于吸附物质的判定请咨询仪器分析专家。⑤仅用 FT-IR 是无法单独判别详细的成分构成的,必须结合 XMA 等其它测试才能对 122 附着物进行更详细的判断。 7.5.6 SEM 和 X 射线分析通过 SEM 和 XMA 分析,可以得到以下信息: ①用 SEM 可以观察膜片表面的外观,判断膜表面的破损状况,推测附着物的大小和类型。判断附着物是属于结晶性或非结晶性物质。还可以观察膜表面的污染程度。但是 SEM 只能对非常窄小的部分进行观察,因此需要选取多个的样品才可以做出判断。②用 XMA 可以对污染物的无机元素进行推断。附着的元素和用 FT-IR 所得的化合物吸收对应组合,可以推断附着物。例如通过 XMA , 看出有 Si 、 Fe 的附着, SEM 发现藻类物质,用 FT-IR 发现有 Si 、 Fe 和藻类的吸收光谱, 参考标准的频谱,可以判定有 Si 、 Fe 和藻类污染的存在。参看图 7.5 和 7.6 。图 7.5 FT-IR 分析示意图图 7.6 SEM 和 X 射线分析结果示意图 123 7.5.7 化学清洗测试为了对污染物质进行推断并判断膜劣化的程度,需要进行化学清洗测试。从化学清洗的效果可以反推出污垢的种类(详细论述请参见第四部分第八章 8.3 )。为了选择恰当的化学药品,可以解体膜元件,取平膜样品进行化学清洗测试。膜解体后的平膜样品可以做成Φ 75 毫米的样品,用化学试剂在常温下浸泡 8小时,再和空白样品(纯水浸泡的膜片)一起进行平膜性能测试来判断化学清洗的效果,最终确定有效的化学试剂,从而大致推断污染物的种类,进而可以指导被污染膜元件的清洗工作。
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