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晶体光学晶体光学教案

上传者:苏堤漫步 |  格式:doc  |  页数:13 |  大小:814KB

文档介绍
常呈弯曲状扫过视域。其中有两种类型的干涉图非常有用,即近于垂直光轴和近于垂直Bxa切面的干涉图,它们与垂直光轴和垂直Bxa切面干涉图的应用大体相同。(四)平行光轴面切面干涉图·干涉图特征与一轴晶平行光轴的干涉图相似,也称瞬变干涉图或闪图。·当切面的Bxa与Bxo分别平行上下偏光的振动方向时:视域出现一个粗大模糊的黑十字,几乎充满视域.·转动物台小角度(7º-10º):黑十字迅速分裂为两个双曲线形状黑臂逸出视域,黑臂逸出方向为Bxa方向.·转到45º位置时:视域最亮,并出现干涉色若矿片双折射率较大或矿片较厚时,可以看到对称的干涉色带,从中心向外缘,沿Bxa方向上的两个象限,干涉色降低,沿Bxo方向的两个象限干涉色升高.·干涉图应用:主要用以确定切面类型,但当轴性已知时,可用来测定光性正负。(五)垂直钝角等分线(Bxo)切面干涉图·干涉图特征与垂直Bxa切面干涉图形相似。只是黑十字显得更大而模糊,光轴出露点不在视域之内。视域中心为Bxo的出露点·垂直Bxo切面干涉图应用:只有在切片类型能够确定时,才能用来测定光性符号。第六章透明矿物薄片系统鉴定在单偏光、正交偏光、锥光系统下观察测定未知透明矿物的一系列光学性质和光学常数,对照《光性矿物鉴定表》,准确定出矿物名称的过程(必要时配合其它测试方法)。本章将前面所学知识有机地结合起来,按照一定的内容、方法、程序来达到鉴定矿物的目的。其中,定向切片的选择及其应用是本章的重点。一、透明矿物系统鉴定的内容1、单偏光系统:矿物形态、解理等级、解理夹角、颜色、多色性、吸收性、突起等级。2、正交偏光系统:最高干涉色级序、最大双折射率、消光类型、消光角、延性符号、双晶类型。3、锥光系统:轴性、切片类型、光性符号、光轴角。二、定向切片的选择1、定向切片选择的必要性:矿物的许多光学常数必须在定向切片上测定,因此要进行透明矿物的系统鉴定,必须选好定向切片.

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