数显卡尺检定规程

数显卡尺检定规程Р范围:Р本规程适用于新制造、使用中、修理后的数显卡尺的检定。Р引用文献РJJG85-1984Р检定项目、检定条件及技术要求、检定方法:Р序号Р检定项目Р主要检定工具Р检定类别Р技术要求Р检定方法Р备注Р新到的Р使用中Р修理后Р1Р外观Р——Р+Р+Р+Р目视Р2Р各部分相互作用Р——Р+Р+Р+Р目视+试验Р3Р测力Р分度值≤0.2N的测力针或同等准确度的测力装置Р+Р+Р+Р要求在6~10N之间,用分度值≤0.2N的测力计或其它测力装置Р4Р两刻线与其导轨平行度Р——Р+Р+Р+Р要求:两刻度尺与其导轨平行度≤0.01mm/全长Р使横指标线与垂直刻度尺的任一刻度重合,缓慢移动水平刻度尺、横指标之偏移量不得超出1/2分度。Р使纵指标线与垂直刻度尺的任一刻度重合,缓慢移动垂直刻度尺、横指标之偏移量不得超出1/2分Р5Р两量爪与测量面的间隙Р——Р+Р+Р+Р利用棘轮装置,使量爪测量面接触,两量面间不得有可见光源Р目视Р6Р数显卡尺测量面的直线度Р1级刀口尺Р+Р-Р+Р用1级刀口直尺检定时,不应有可见光源Р1级刀口尺Р7Р两量爪端面的平面度Р1级刀口尺Р+Р-Р+Р任意位置,两量爪端面和高度尺测量面平行度≤0.01mmР1级刀口尺Р8Р示值误差Р5等或2级量块Р2级平面晶Р+Р+Р+Р不超过±0.02mmР对于0—150mm,检定点应均匀分布在刻度范围的3个点上。Р51.2, 101.5, 141.8。Р对于0—300mm,检定点应均Р匀分布在刻度范围的3个点上Р101.2, 201.5 ,291.8Р9Р数值稳定性Р-----Р+Р+Р+Р 目视Р经检定符合本规程的,发给检定证书。Р批准: 审核: 作成: